Последние новости
06 дек 2016, 22:35
Сегодня, 6 декабря 2016 года, в районе между деревней Богословка и посёлком Черёмушки в...
Поиск

» » » Классические и "хай-тек" наушники от SVEN


Классические и "хай-тек" наушники от SVEN

Классические и "хай-тек" наушники от SVENКомпания SVEN представила несколько новых моделей мультимедийных наушников со встроенным микрофоном - SVEN AP-835 и SVEN AP-875 - несомненно, станут одними из самых ярких и запоминающихся участников этого шоу.

Модель SVEN AP-835 наверняка приглянётся поклонникам классического дизайна. Устройство имеет чашечки среднего размера и округлой формы с мягкими амбушюрами из искусственного бархата. Оголовье регулируется и подстраивается под каждого отдельного слушателя. Микрофон крепится к левому наушнику с помощью металлического держателя и закрывается насадкой из пористого материала для уменьшения помех. Длина провода, на котором также расположен регулятор громкости, составляет в 2,5 метра.

Технические характеристики SVEN AP-835:

 

  • Сопротивление – 32 Ом;
  • Чувствительность – 103 дБ+/- 4дБ;
  • Диапазон частот – 20-20000 Гц;
  • Максимальная входная мощность - 150 мВт;
  • Высокая чувствительность микрофона (от -58 дБ до +3 дБ);
  • 3,5-миллиметровый штекер;
  • Длина шнура - 2,5 метра;
  • Масса – 300 грамм.

Наушники SVEN AP-875 выполнены в стилистике «хайтек». Большие габариты, мягкие овальные амбушюры, регулирующиеся оголовье, эффективное экранирование звука, четкий бас – всё это делает новое устройство довольно привлекательным. Длина провода у AP-875, как и у AP-835, составляет 2,5 метра.

Технические характеристики SVEN AP-875:

 

  • Сопротивление – 32 Ом;
  • Чувствительность - 103дБ+/- 4дБ;
  • Диапазон частот - 20-20000 Гц;
  • Макс. входная мощность - 150 мВт;
  • Чувствительность микрофона - от -58 дБ до +3 дБ;
  • Диапазон частот микрофона - 30 -16000 Гц;
  • 3,5-миллиметровый штекер;
  • 2,5-метровый шнур;
  • Масса – 350 грамм.
Источник:
15 фев 2007, 15:16
Информация
Комментировать статьи на сайте возможно только в течении 100 дней со дня публикации.